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详情介绍
仪器用途： 用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析。
仪器特点： 1.光学系统采用无限远色差校正光学系统。 2.软件通俗易懂，可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量，可根据客户要求定制软件功能。
规格参数：
上照明系统：反射灯室、暖色
下照明系统：透射灯室、暖色
CCD相机
双层机械载物：190x140m
m移动范围：750x50mm
双层机械载物台：175x145mm
移动范围：76x42mm
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