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光源是影响影像测量仪视觉图像质量的重要因素，照明对输入数据的影响至少占到 30 % 。
在影像测量仪视觉检测系统中，好的打光方式可以让我们更准确地捕捉物体特征，提高物体与背景的对比度。今天，源兴光学为您分享一下机器视觉光源的照明方式及应用特点。
常见的打光方式有以下几种：
前面打光法
后面打光法
结构光打光法
混合多方式照明
特殊式
角度照射
*不同的光源公司对角度的定义不同，在选购合适的光源的同时要慎重
应用
特点：在一定工作距离下，光束集中、亮度高、均匀性好、照射面积相对较小。常用于液晶校正、塑胶容器检查、工件螺孔定位、标签检查、管脚检查、集成电路印字检查等(30、45、60、75等角度环光*)。
垂直照射
应用
特点：照射面积大、光照均匀性好、适用于较大面积照明。可用于基底和线路板定位、晶片部件检查等（0角度环光、面光源*）。
*不同的光源公司对角度的定义不同，在选购合适的光源的同时要慎重
低角度照射
应用
特点：对表面凹凸表现力强。适用于晶片或玻璃基片上的伤痕检查（90度环光*）
*不同的光源公司对角度的定义不同，在选购合适的光源的同时要慎重
背光照射
应用
特点：发光面是一个漫射面，均匀性好。可用于镜面反射材料，如晶片或玻璃基底上的伤痕检测；LCD检测；微小电子元件尺寸、形状，靶标测试。（背光源、平行背光源）
多角度照射
应用
特点：RGB三种不同颜色不同角度光照，可以实现焊点的三维信息的提取。适用于组装机板的焊锡部份、球形或半圆形物体、其它奇怪形状物体、接脚头（AOI光源）
碗状光照明
应用
特点：360度底部发光，通过碗状内壁发射，形成球形均匀光照。用于检测曲面的金属表面文字和缺陷。（球积分光源，通常也叫圆顶光）
同轴光照明
特点：
类似于平行光的应用，光源前面带漫反射板，形成二次光源，光线主要趋于平行。用于半导体、PCB板、以及金属零件的表面成像检测，微小元件的外形、尺寸测量。（同轴光源，平行同轴光源）
应用
其他光源及照射方式
护照检测：同轴光，条形光，环形光，组合使用，以适应各种缺陷
对位装置：环形光，同轴光，既能实现Mark点定位，又能实现检测功能
多色组合光源：应轻松应对不同颜色的工件
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