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表盘底盖缺陷检测仪(广东源光光学新产品)
  1. [ 日期:2014-10-09 查看次数:731 ]

仪器用途:

该仪器主要用于自动检测表盘正面缺陷,如:确认表盘表面的底色及底纹、表面是否刮花、有污渍、灰尘;确认时位字钉形状、粗幼、长短、颜色、夜光、少字钉、错字钉、钉伤、钉崩、钉污等;确认分线印刷的位置、大小、颜色、断划、少印刷等;确认LOGO印刷的位置、大小、颜色、断划、印刷不良等; 确认日历窗的大小、印刷、披锋等; 确认附加件有无、位置、配合等。

仪器特点:

具有国际先进水平的测量软件包YVM-AOI 将现代坐标测量技术、现代CAD工业设计技术和现代工业加工技术的几何量尺寸、公差评定测试要求进行了最佳结合,不管是简单的箱体类工件还是复杂的轮廓曲面类工件抑或是更加专业的LCD行业,YVM-AOI 软件都为其提供了完美的测量解决方案。计算速度快、数学模型先进、功能齐全、操作直观、稳定性好。

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