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| YX-JX40 |
仪器用途：
用于PCB电路板金相分析微切片的测量和分析。
仪器特点：
1.光学系统采用无限远色差校正光学系统。
2.软件通俗易懂，可实现点、线、圆弧、半径、直径、角度等测量，可根据客户要求定制软件功能。
规格参数：
上照明系统：反射灯室、暖色
下照明系统：透射灯室、暖色
CCD相机
双层机械载物：190x140m
m移动范围：750x50mm
双层机械载物台：175x145mm
移动范围：76x42mm
型号
YX-JX30
YX -JX40
光学放大倍率
50x~500x
50x~500x
目镜
10x（带测微尺）
10x（带测微尺）
物镜
5x、10x、20x、50x
5x、10x、20x、50x
转换器
四孔滚珠式转换器
内定位五孔转换器
照明系统
落射照明装置：高亮度LED灯照明，亮度可调。
300万像素高清摄像机
300万像素高清摄像机
测量精度
0.0012mm
0.0012mm
载物台
样品高度
最大样品高度28mm
最大样品高度28mm
测量软件
YX-J
YX-J
主营离子污染测试仪,自动影像测量仪,尺寸快速测量仪,2.5次元测量仪
广东源兴光学仪器有限公司 地址：东莞市万江新和电化路2号合喜工业园
联系人：廖小姐 手机：13528548612电话：0769-38807533 传真：0769-38826322/38826321
